Testing, packaging, reliability, and applications of semiconductor lasers IV : 28 January 1999, San Jose, California
書誌事項
- タイトル
- "Testing, packaging, reliability, and applications of semiconductor lasers IV : 28 January 1999, San Jose, California"
- 責任表示
- Mahmoud Fallahi, Kurt J. Linden, S.C. Wang
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c1999
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272007143040
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- NII書誌ID
- BA60548136
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- ISBN
- 081943096X
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- LCCN
- 00500663
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/00500663
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books