Electron beam ion sources and traps and their applications : eighth international symposium EBIS/T 2000, Upton, N.Y. 5-8 November 2000

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書誌事項

タイトル
"Electron beam ion sources and traps and their applications : eighth international symposium EBIS/T 2000, Upton, N.Y. 5-8 November 2000"
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editor, Krsto Prelec
出版者
  • American Institute of Physics
出版年月
  • c2001
書籍サイズ
25 cm

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注記

Includes bibliographical references

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282272298114176
  • NII書誌ID
    BA53573519
  • ISBN
    0735400113
  • LCCN
    01091142
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/01091142
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Melville, New York
  • データソース種別
    • CiNii Books
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