Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the International Symposium

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書誌事項

タイトル
"Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the International Symposium"
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editors, D.C. Hansen, H.S. Issacs, K. Sieradzki
出版者
  • Electrochemical Society
出版年月
  • c2001
書籍サイズ
24 cm

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注記

"Corrosion, Electrodeposition and Physical Electrochemistry Divisions"--on T.p

Includes bibliographical references and indexes

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282272373390336
  • NII書誌ID
    BA54496592
  • ISBN
    1566773024
  • LCCN
    01086650
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/01086650
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Pennington, N.J.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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