高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究
CiNii
Available at 1 libraries
Bibliographic Information
- Title
- "高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 土屋良海
- Publisher
-
- [土屋良海]
- Publication Year
-
- 2007.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
-
- コウセイド ミツド ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ユウタイ ノ キョクショ コウゾウ ヘンカ ト ノウド ユラギ ノ ケンキュウ
Search this Book/Journal
Notes
課題番号: 16560577
主に英語
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1130282272654730880
-
- NII Book ID
- BA86539276
-
- Country Code
- ja
-
- Title Language Code
- ja
-
- Place of Publication
-
- [新潟]
-
- Data Source
-
- CiNii Books
