高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究"
- 責任表示
- 研究代表者 土屋良海
- 出版者
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- [土屋良海]
- 出版年月
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- 2007.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- コウセイド ミツド ソクテイ ニヨル ハンドウタイ ユウタイ ノ キョクショ コウゾウ ヘンカ ト ノウド ユラギ ノ ケンキュウ
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注記
課題番号: 16560577
主に英語
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272654730880
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- NII書誌ID
- BA86539276
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [新潟]
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- データソース種別
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- CiNii Books
