日本と中国の特許制度についての比較研究 : 特許審査制度を中心に = Comparative study on the patent systems between China and Japan : focusing on the patent examination system
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "日本と中国の特許制度についての比較研究 : 特許審査制度を中心に = Comparative study on the patent systems between China and Japan : focusing on the patent examination system"
- 責任表示
- シュウ・ニン [著]
- 出版者
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- 知的財産研究所
- 出版年月
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- 1999.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- ニホン ト チュウゴク ノ トッキョ セイド ニ ツイテ ノ ヒカク ケンキュウ : トッキョ シンサ セイド オ チュウシン ニ
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注記
特許庁委託
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272729013248
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- NII書誌ID
- BA72773253
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- 東京
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- データソース種別
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- CiNii Books