Nondestructive tests used to insure the integrity of semiconductor devices with emphasis on acoustic emission techniques

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1130282272876177408

• NII書誌ID

  BB18869820

• LCCN

  79600131

• Web Site

  https://lccn.loc.gov/79600131

  https://catalog.hathitrust.org/Record/006865775

• 本文言語コード

  en

• 出版国コード

  us

• タイトル言語コード

  en

• 出版地

  • Washington

• 分類

  • LCC: QC100
  • LCC: TK7871.85

• 件名

  • LCSH: Semiconductors -- Testing
  • LCSH: Semiconductor industry -- Quality control
  • LCSH: Nondestructive testing
  • LCSH: Acoustic emission testing

• データソース種別

  • CiNii Books