レーザーアブーションによる半導体薄膜作製と時間分解構造測定 = Fabrication of semiconductor films by laser ablation and time-resolved structure measurements
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "レーザーアブーションによる半導体薄膜作製と時間分解構造測定 = Fabrication of semiconductor films by laser ablation and time-resolved structure measurements"
- 責任表示
- 村上浩一研究代表者
- 出版者
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- [村上浩一]
- 出版年月
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- 1999.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- レーザーアブレーション ニヨル ハンドウタイ ハクマク サクレツ ト ジカン ブンカイ コウゾウ ソクテイ
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注記
課題番号: 09044131
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272966703488
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- NII書誌ID
- BA47631461
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [つくば]
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- データソース種別
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- CiNii Books