Microwave diagnostics of semiconductors : proceedings of the International Symposium on Microwave Diagnostics of Semiconductors, Porvoo, Finland July 13-15, 1977
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書誌事項
- タイトル
- "Microwave diagnostics of semiconductors : proceedings of the International Symposium on Microwave Diagnostics of Semiconductors, Porvoo, Finland July 13-15, 1977"
- 責任表示
- edited by R. Paananen
- 出版者
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- Svenska Tekniska Vetenskapsakademien i Finland
- Centraltryckeriet
- 出版年月
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- 1977
- 書籍サイズ
- 22 cm
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注記
At head of title: Svenska Tekniska Vetenskapsakademien i Finland = The Swedish Academy of Engineering Sciencies in Finland
Includes bibliographical references
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282273286235392
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- NII書誌ID
- BB14644738
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- ISBN
- 9519090096
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- fi
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Helsingfors
- Helsingfors
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- データソース種別
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- CiNii Books