Rietveld refinement : practical powder diffraction pattern analysis using TOPAS
書誌事項
- タイトル
- "Rietveld refinement : practical powder diffraction pattern analysis using TOPAS"
- 責任表示
- Robert E. Dinnebier, Andreas Leineweber, John S.O. Evans
- 出版者
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- Walter de Gruyter
- 出版年月
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- c2019
- 書籍サイズ
- 24 cm
- シリーズ名/番号
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- : pbk
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130566852408128512
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- NII書誌ID
- BB29246568
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- ISBN
- 9783110456219
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- LCCN
- 2018954391
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2018954391
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- gw
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Berlin
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- 件名
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- LCSH: X-rays -- Diffraction
- LCSH: Crystallography
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- データソース種別
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- CiNii Books