A simple method to characterize substrate current in MOSFET's

この論文をさがす

収録刊行物

  • IEEE Electron Device Letters

    IEEE Electron Device Letters 5 (12), 505-507, 1984-12

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

被引用文献 (14)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ