Cosmic ray induced failures in high power semiconductor devices

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H.R. Zeller

収録刊行物

Microelectronics Reliability

Microelectronics Reliability 37 (10-11), 1711-1718, 1997-10

Elsevier BV

被引用文献 (1)*注記

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CRID

1361137046399050624
DOI

10.1016/s0026-2714(97)00146-7
ISSN

00262714
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