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Scanning Kelvin Force Microscopy For Characterizing Nanostructures in Atmosphere
DOI
被引用文献1件
J. J. Kopanski
M. Y. Afridi
S. Jeliazkov
W. Jiang
T. R. Walker
David G. Seiler
Alain C. Diebold
Robert McDonald
C. Michael Garner
Dan Herr
Rajinder P. Khosla
Erik M. Secula
収録刊行物
AIP Conference Proceedings
AIP Conference Proceedings 931 530-, 2007
AIP
被引用文献 (1)
*注記
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詳細情報
詳細情報について
CRID
1361418519399731456
DOI
10.1063/1.2799430
ISSN
0094243X
データソース種別
Crossref
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