Tensile testing of thin-film microstructures

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公開日
1997-09-05
DOI
  • 10.1117/12.284534
公開者
SPIE

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  • CRID
    1361699996131271296
  • DOI
    10.1117/12.284534
  • ISSN
    0277786X
  • データソース種別
    • Crossref

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