Ellipsometric study of refractive index anisotropy in porous silicon

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収録刊行物

Journal of Luminescence

Journal of Luminescence 80 (1-4), 183-186, 1998-12

Elsevier BV

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CRID

1362544418838272768
DOI

10.1016/s0022-2313(98)00093-3
ISSN

00222313
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