Dimensional artefacts to achieve metrological traceability in advanced manufacturing

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公開日
2020
権利情報
  • https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
  • https://www.elsevier.com/legal/tdmrep-license
DOI
  • 10.1016/j.cirp.2020.05.009
公開者
Elsevier BV

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収録刊行物

  • CIRP Annals

    CIRP Annals 69 (2), 693-716, 2020

    Elsevier BV

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