オージェ電子分光法における頻用相対感度係数のマトリックス効果とその補正の検討(<特集>無機材料分析のためのスペクトロメトリー)

DOI NDLデジタルコレクション Web Site Web Site

書誌事項

タイトル別名
  • Consideration on matrix effect on modified relative sensitivity factors for Auger electron spectroscopy.
  • オージェ電子分光法における頻用相対感度係数のマトリックス効果とその補正の検討
  • オージェ デンシ ブンコウホウ ニ オケル ヒンヨウ ソウタイ カンド ケイス

この論文をさがす

抄録

Relative sensitivity factors have been utilized for semi-quantitative analysis by Auger electron spectroscopy. In order to perform more accurate measuring the commonly used relative sensitivity factors read out from a Handbook were modified reflecting the dependence of the Auger signal on atomic density using the equations, λ∝√A/ρ, λ∝/A/ρ andλ∝A/(ρZ ), where λ is inelastic mean free path of electron, A is the atomic weight, Z is the atomic number and ρ is the density. Then the modified relative sensitivity factors could be approached to those experimentally obtained with binary systems such as Fe-M, Si-M and C-M, where M is 3d transition metals.

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 35 (8), 766-769, 1986

    公益社団法人 日本分析化学会

キーワード

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ