書誌事項
- タイトル別名
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- Determination of components in refractories containing silicon carbide by X-ray fluorescence spectrometry using glass beads.
- ガラスビード ケイコウ Xセン ブンセキホウ ニ ヨル タンカ ケイソ ガンユウ タイカブツ チュウ ノ サンカブツ セイブン ノ テイリョウ
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抄録
非酸化物の炭化ケイ素含有耐火物のガラスビード/蛍光X線分析法について検討した。炭化ケイ素含有試料0.3000gを四ホウ酸リチウム3.0000gとよく混合し,白金-金合金容器に入れ,840°Cの酸素雰囲気電気炉中で約33時間加熱後,仕上げ融解することにより,融成物の飛散もなく良質のガラスビードが作製できた。得られたガラスビードは試料中のSiCのSiO2への酸化によって質量増加し,融剤と試料の比10:1の関係が崩れ,通常のSiO2-Al2O3二元系検量線では精度良い分析ができなかった。そこで,質量増量(GOI)を成分の一つと仮定し,GOIをベース成分としてファンダメンタルパラメーター法によって各分析成分の理論共存成分補正係数(理論dj)を求め,GOI-SiO2二元系検量線(GOI補正法)を構築することによって精度よい分析ができることが分かった。GOI補正法を市販標準物質に適用したところ,Fe2O3を除き標準値とよく一致した。Fe2O3は白金容器と合金化を起しており,当面その分析には融解を伴わない湿式法の適用が必要であった。
収録刊行物
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- 分析化学
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分析化学 49 (5), 297-306, 2000
公益社団法人 日本分析化学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204053610880
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- NII論文ID
- 110002905855
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- NII書誌ID
- AN00222633
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD3cXjvVagtLo%3D
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- NDL書誌ID
- 5383356
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- ISSN
- 05251931
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- NDL-Digital
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可