シリコンナノピンセットとマイクロ流体デバイスによるDNA放射線損傷のリアルタイム測定

DOI Web Site
  • 江 柏村
    東京大学大学院　工学系研究科
  • ペレト グレグア
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • ラフィト ニコラ
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • 久米村 百子
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • ジャラベール ロラン
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • 榎本 敦
    東京大学大学院　医学院研究科　疾患生命センター
  • 宮川 清
    東京大学大学院　医学院研究科　疾患生命センター
  • コラール ドミニク
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
  • 藤田 博之
    東京大学生産技術研究所　マイクロナノメカトロニクス国際研究センター

書誌事項

タイトル別名
  • Real-time Measurement of DNA Degradation under Radiation by Silicon Nanotweezers Coupled with Microfluidic Cavity
  • シリコンナノピンセット ト マイクロ リュウタイ デバイス ニ ヨル DNA ホウシャセン ソンショウ ノ リアルタイム ソクテイ

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説明

放射線癌治療をより効果的にするため，放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である．本研究ではMEMS ピンセットを道具として，X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした．DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り，DNA分子束の硬さを判別できる．DNA分子の損傷はその硬さに影響するため，分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す．また，リアルにより近づくために，マイクロ流体デバイスを用い，X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた．本研究はDNA損傷測定の新手法であり，放射線治療を改善する可能がある．

収録刊行物

  • 生産研究

    生産研究 66 (3), 285-290, 2014

    東京大学生産技術研究所

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