書誌事項
- タイトル別名
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- Basis of Quantitative Auger Aualysis
- オージェ テイリョウ ブンセキ ノ キソ ハイメン サンラン デンシ コウカ
- 背面散乱電子効果の補正を中心にして
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抄録
記事分類: 化学・化学工業--化学実験・分析化学--光分析・電磁気分析 ; 金属工学・鉱山工学--性質・組織
収録刊行物
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- 真空
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真空 25 (10), 645-659, 1982
一般社団法人 日本真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204064017408
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- NII論文ID
- 130000866131
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- NII書誌ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL書誌ID
- 2466257
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles