Multiple BN Delta-layers as the Reference Material forUltra-shallow Depth Profiling and Evaluation of the Sputtering Rate Variation
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- HOMMA Yoshikazu
- NTT Basic Research Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation
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- TAKENAKA Hisataka
- NTT Advanced Technology Corporation
Bibliographic Information
- Other Title
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- 極浅領域の深さ方向分析用多層BNデルタドープ標準物質とそれによるスパッタ速度変化の評価
- ゴクセンリョウイキ ノ フカサ ホウコウ ブンセキヨウ タソウ BN デルタドープ ヒョウジュン ブッシツ ト ソレニ ヨル スパッタ ソクド ヘンカ ノ ヒョウカ
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Journal
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- Shinku
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Shinku 46 (11), 772-776, 2003
The Vacuum Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204064625664
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- NII Article ID
- 10012512309
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- NII Book ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL BIB ID
- 6762388
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles