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- 津田 健治
- 東北大学多元物質科学研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Electrostatic Potential Analysis Using Convergent-Beam Electron Diffraction
- シュウソク デンシ カイセツホウ ニ ヨル セイデンポテンシャル ブンプ カイセキ
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抄録
A nanoscale structure analysis method using convergent-beam electron diffraction (CBED) is described, which enables us to directly determine electrostatic potential. Applications of the method to crystalline silicon and spinel oxide FeCr2O4 are presented.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 52 (3), 184-189, 2010
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204087295616
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- NII論文ID
- 10026512633
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3cXpvVCjtrg%3D
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 10769917
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可