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- 秋本 晃一
- 名古屋大学大学院工学研究科
書誌事項
- タイトル別名
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- Frontiers in Crystallography with Synchrotron Radiation. X-ray Studies near Absorption Edges of Elements. Atom-Selective Experiments. Multiple Wavelength Dispersion Analysis of Semiconductor Interface Structure.
- タ ハチョウ イジョウ ブンサンホウ デ ハンドウタイ カイメン コウゾウ オ
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抄録
The multiple wavelength anomalous dispersion (MAD), a powerful direct method, has been modified and applied for the first time to the interface structural analysis. This allows us to separate heavy and light atoms, and so deduce the structure.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 39 (1), 45-48, 1997
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204087739008
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- NII論文ID
- 10002589129
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 4159565
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
