Robustness in Nano-Scale Measurement : New Techniques for Scanning Probe Microscopy(<Special Issue>Understanding the Robustness)
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- ABE Masayuki
- 大阪大学大学院工学研究科
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- SUGIMOTO Yoshiaki
- 大阪大学大学院工学研究科
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- MORITA Seizo
- 大阪大学大学院工学研究科
Bibliographic Information
- Other Title
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- ナノスケール計測におけるロバストネス : 走査型プローブ顕微鏡の新技術(<特集>ロバストネスを探る)
- ナノスケール計測におけるロバストネス--走査型プローブ顕微鏡の新技術
- ナノスケール ケイソク ニ オケル ロバストネス ソウサガタ プローブ ケンビキョウ ノ シンギジュツ
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Journal
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- SYSTEMS, CONTROL AND INFORMATION
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SYSTEMS, CONTROL AND INFORMATION 55 (4), 141-146, 2011
THE INSTITUTE OF SYSTEMS, CONTROL AND INFORMATION ENGINEERS
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204304485504
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- NII Article ID
- 110008608073
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- NII Book ID
- AN10062329
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- ISSN
- 24241806
- 09161600
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- NDL BIB ID
- 11037723
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
