Reliability of Semiconductor Optical Devices
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- Fukuda Mitsuo
- NTT光エレクトロニクス研究所
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- Ohami Hiromi
- NTT光エレクトロニクス研究所
Bibliographic Information
- Other Title
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- 光半導体デバイスの信頼性
- ヒカリ ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ
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Description
現在実用化されているIII-V族化合物半導体光デバイスの信頼性について述べる.これらデバイスは基本的には総てpn接合デバイスであるため, 電気的バイアスの方向でそれらデバイスを分類し、それぞれ劣化姿態と信頼度について概説した。
Journal
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- The Journal of Reliability Engineering Association of Japan
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The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 20 (6), 376-384, 1998
Reliability Engineering Association of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452070144
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- NII Article ID
- 110004002919
- 10011772445
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- NII Book ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL BIB ID
- 4534023
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed