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- 福田 保裕
- 沖電気工業株式会社
書誌事項
- タイトル別名
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- Deterioration and Destruction of Semiconductor Devices caused by Electrostatic Phenomena
- 信頼性教室 半導体デバイスの静電気破壊現象
- シンライセイ キョウシツ ハンドウタイ デバイス ノ セイデンキ ハカイ ゲンショウ
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収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 22 (1), 51-59, 2000
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452729728
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- NII論文ID
- 110004002571
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 4975460
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
