0-1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法

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タイトル別名
  • A Method for Selecting Test Patterns for Defect-Aware Test by using 0-1 Integer Linear Program
  • 0-1 セイスウ ケイカク モンダイ オ リヨウ シタ ケッカン ケンシュツ ムケ テストパターン センタクホウ

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説明

微細化加工技術の進展に伴って,配線の物理的欠陥によって生じる多様な故障が問題となっている.多様な故障モデルを検出することを目的とした欠陥検出向けテストのために,これまでN回検出テスト集合を利用することが提案されている.しかしながら,設定された検出回数の増加に伴うテストパターン数の増加が問題である.本論文では,まず,故障励起関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価する指針(欠陥検出確率)を提案する.次に,欠陥検出確率に基づいて,検出回数Nの値が大きなN回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を0-1整数計画問題として定式化する.評価実験結果から,提案法により得られたテスト集合は,テストパターン数の同じ遷移故障のN回検出テスト集合に比べて,より多様な故障モデルを検出できることを示す.

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