ワイブル分布からの二値観測寿命試験のための逐次D-最適試験計画

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  • Sequential D-Optimal Design for Binary Lifetime Testing on Weibull Distribution
  • ワイブル ブンプ カラ ノ ニチ カンソク ジュミョウ シケン ノ タメ ノ チクジ D サイテキ シケン ケイカク

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抄録

信頼性寿命試験の結果を観測するのに破壊検査が必要な状況では、試験終了時にのみ正常か故障したかの二値データのみが観測される。岩本・鈴木[6]はそのような試験について母数の初期値を与えて試験計画を導出するという仮定の下で、幾つかの寿命分布の下でのD-最適な試験計画について考察を行った。本稿では、その計画の初期値への依存性の緩和を検討するために、複数のステージを経る逐次寿命試験へと拡張して、更新する条件付きD-最適な逐次試験計画を提案する。そして、形状母数が既知のワイブル分布についてこの計画の性質を検討するとともに、小標本の場合の最尤推定量の偏りと分散も検討する。その結果、尺度母数ηの最尤解が得られるためには初期推定値と真値との比ηo/ηを小さめに設定できればよいこと、またm ≤ 1.0の場合は、最適配分と比較しても1ステージのみでの試験で十分なFisher情報量が得られ、多ステージにわたって試験をする必要はないことがわかった。

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