Basic Course in Semiconductor Device Reliability(2) : Life Distribution of LSI(Basic Course in Reliability)
-
- KIMURA Tadamasa
- 電気通信大学
Bibliographic Information
- Other Title
-
- 半導体デバイスの信頼性基礎講座(2)(RCJ故障物理研究委員会編) : LSIの寿命分布(信頼性基礎講座)
- 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布
- ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ キソ コウザ RCJ コショウ ブツリ ケンキュウ イインカイヘン 2 LSI ノ ジュミョウ ブンプ
Search this article
Journal
-
- The Journal of Reliability Engineering Association of Japan
-
The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 29 (5), 335-338, 2007
Reliability Engineering Association of Japan
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1390001204453379072
-
- NII Article ID
- 110006367147
-
- NII Book ID
- AN10540883
-
- ISSN
- 24242543
- 09192697
-
- NDL BIB ID
- 8915227
-
- Text Lang
- ja
-
- Data Source
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
