書誌事項
- タイトル別名
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- Quantitative Characterization of Substrate Noise for Physical Design Guides in Digital Circuits
- CMOS デジタル カイロ ノ キバン ザツオン テイリョウ ヒョウカ ト テイザツオンカ レイアウト シシン
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抄録
基板雑音を100ps-100μV分解能で定量的に評価した。デジタルブロックの活性化率に雑音振幅は比例し、その低減は直接的で普遍的に基板雑音抑圧効果を示す。一方、雑音発生側でのKelvinグラウンド適用と雑音敏感な回路近傍でのガードバンド接地の併用により基板雑音振幅の75%程度を減衰できるが、その効果はリンギングなど低い周波数成分に限られることがわかった。
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 24.52 (0), 1-7, 2000
一般社団法人 映像情報メディア学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204523853056
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- NII論文ID
- 110003688169
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 5549157
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可