書誌事項
- タイトル別名
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- Variability in Scaled MOS Transistors: Present Status and Measures
- ゾウダイスル ビサイ MOS トランジスタ ノ トクセイ バラツキ ゲンジョウ ト タイサク
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抄録
The present status of variability in characteristics of the state-of-the-art MOS transistors is presented. The statistics of threshold voltage of arrayed transistors show the normal distribution. Special emphasis is placed on the analysis of random threshold voltage fluctuations. A new method to compare the amount of random variations in different fabs and different technologies is proposed. Finally, the measures to the variability of scaled CMOS are discussed.
収録刊行物
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- 電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）
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電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌） 128 (6), 820-824, 2008
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204606014336
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- NII論文ID
- 10021132489
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- NII書誌ID
- AN10065950
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- ISSN
- 13488155
- 03854221
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- NDL書誌ID
- 9531720
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可