次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発

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タイトル別名
  • Aberration corrected microscopy with newly developed platform
  • ジ セダイ ノ デンシ コウガクケイ オ ユウスル シュウサ ホセイ デンシ ケンビキョウ ノ カイハツ

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収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 41 (1), 21-25, 2006

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

参考文献 (8)*注記

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