傾斜角積分法による超精密形状計測法

  • 上野 智裕
    大阪大学 大学院工学研究科 遠藤研究室
  • 東 保男
    高エネルギー加速器研究機構 機械工作センター
  • 遠藤 勝義
    大阪大学 大学院工学研究科 遠藤研究室

書誌事項

タイトル別名
  • Development of a surface gradient integrated profiler
  • - Study on determination of the normal vector measured positions with high accuracy by self calibration -
  • 自律較正法による法線ベクトル測定点の座標の高精度化

説明

自由曲面形状をナノメータの精度で形状計測をおこなうための計測装置を開発している。ところが、曲率の大きい形状を測定するためには法線ベクトル測定点時の試料と検出器間の光路長Lを高精度で求めなければ、法線ベクトルから形状を求める際に形状誤差を生じる。しかし、測定装置上で高精度で光路長Lを計測することは困難である。そこで、測定装置上で光路長Lの絶対値をサブミクロンの精度で求める自立較正法を提案する。

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205652743680
  • NII論文ID
    130004658559
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2008a.0.291.0
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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