Determination of polishing pad conditioning method based on relationship between polishing apparatus and various consumables at chemical mechanical polishing
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- Matsunaga Takahiro
- Graduate School of Kanazawa Institute of Technology
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- Uneda Michio
- Kanazawa Institute of Technology
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- Shibuya Kazutaka
- Fujikoshi Machinery Corp.
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- Nakamura Yoshio
- Fujikoshi Machinery Corp.
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- Ichikawa Daizo
- Fujikoshi Machinery Corp.
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- Ishikawa Ken-ichi
- Kanazawa Institute of Technology
Bibliographic Information
- Other Title
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- CMPにおける研磨装置と消耗副資材の関係解明を通じたコンディショニング条件決定法の研究
Abstract
本研究では,CMPにおける研磨装置と消耗副資材の関係解明を通じて,所望する研磨レートを実現するための研磨パッドコンディショニング条件の決定法の提案を目的とする.本報では複数のコンディショナを用いて,これらの組み合わせと運動を制御することで,サファイアCMPであれば従来比2倍以上の研磨レートの具現化に成功した.さらには,機械学習を用いて研磨パッドを自動的に作り込むコンディショニング手法の指針提案と有効性を検討した結果を述べる.
Journal
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- Proceedings of JSPE Semestrial Meeting
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Proceedings of JSPE Semestrial Meeting 2017S (0), 531-532, 2017
The Japan Society for Precision Engineering
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205659523712
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- NII Article ID
- 130006043850
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed