HAXPES and Ar-GCIB XPS analysis for electrode of lithium ion battery

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  • HAXPESおよびAr-GCIB XPSを用いたリチウムイオン電池活物質の分析

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XPSは材料表面の組成、結合状態を評価する手法として非常に有用である。XPSで材料内部の情報を取得するにはイオンエッチングを併用する必要があるが、材料の変質が懸念される。本研究ではLIB活物質を対象として、非破壊または低損傷で材料内部の情報を得られる放射光を用いたHAXPESおよびAr-GCIBを併用した実験室XPSのデータの取得・比較を行い、目的に応じた各手法の使い分けについて検討した。

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390001205678363776
  • NII Article ID
    130005974670
  • DOI
    10.14886/sssj2008.37.0_16
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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