ペロブスカイト酸化物薄膜成長時における電子状態・伝導特性の検証

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タイトル別名
  • Investigation of Electronic States and Conductivity during Thin-Film Growth of Perovskite Oxides

抄録

パルスレーザー堆積法を用いた酸化物薄膜形成時における電子状態・伝導特性の変化を検討した。(√13×√13)-R33.7º SrTiO3(001)再構成基板表面上にSrOやLaAlO3薄膜を成長させると、基板表面に酸素由来の欠陥が誘起されることをSTM観察により明らかにした。また、エピタキシャル成長中の伝導特性は、薄膜堆積時から変化している結果が得られ始めており、微視的な電子状態観察と巨視的な電気伝導特性の両面から、酸化物界面の伝導について議論する。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205679278080
  • NII論文ID
    130005456562
  • DOI
    10.14886/sssj2008.32.0_210
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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