樹脂封止LSI素子の信頼性向上のための樹脂の選定指針

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Selection precept of epoxy resin for improving reliability of resin-sealed LSI device

抄録

エポキシ樹脂アンダーフィルを用いた半導体素子に生じる熱応力におよぼす,樹脂特性(ヤング率,線膨張係数)の影響を二次元弾塑性有限要素解析を行うことにより明らかにした.そして,その結果より素子の信頼性を向上させるための樹脂選定指針を得ることができた.

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205696340480
  • NII論文ID
    130004641167
  • DOI
    10.14920/jwstaikai.2005f.0.26.0
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

問題の指摘

ページトップへ