28aCH-4 Coincidence measurements of secondary electron yield and number of transmitted ions under irradiation of fast cluster ions

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  • 28aCH-4 高速クラスター照射における二次電子と透過イオンの同時測定(28aCH 放射線物理(放射線計測・2次電子放出・クラスター・放射線損傷),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

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