28aCH-4 高速クラスター照射における二次電子と透過イオンの同時測定(28aCH 放射線物理(放射線計測・2次電子放出・クラスター・放射線損傷),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))

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タイトル別名
  • 28aCH-4 Coincidence measurements of secondary electron yield and number of transmitted ions under irradiation of fast cluster ions

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205963704448
  • NII論文ID
    110009834236
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.69.1.2.0_190_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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