14pXG-11 半導体へき開プロセスの電子論描像 : 表面再構成・異方的ひずみ・ステップ形成の競合(表面界面構造 : 半導体, 領域 9)

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タイトル別名
  • 14pXG-11 Electronic structure in cleavage process of semiconductor : surface reconstruction, anisotropic strain and step formation

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206000180992
  • NII論文ID
    110002050486
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.59.2.4.0_822_1
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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