書誌事項
- タイトル別名
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- Oxygen Deficiency and Electrical Conductivity in LnNiO3-z (Ln=La, Pr) and LaCuO3-z.
- Ln Ni O3-z Ln La Pr オヨビ La Cu O3-z ノ サン
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説明
We report the preparation, structure and electrical properties of LaNiO3-z, PrNiO23-z and LaCuO3-x. Wide range of oxygen deficiency was realized by changing the synthetic oxygen pressure. These systems show metallic conductivity even for the samples having a large amount of oxygen vacancy (Z<0.25). The Seebeck coefficient measurement showed that the dominant carrier in LnNiO3-z system is electron, while hole carrier is dominant in LaCuO3-z system.
収録刊行物
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- 粉体および粉末冶金
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粉体および粉末冶金 39 (5), 345-348, 1992
一般社団法人 粉体粉末冶金協会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206304679296
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- NII論文ID
- 130000818164
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- NII書誌ID
- AN00222724
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- ISSN
- 18809014
- 05328799
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- NDL書誌ID
- 3769693
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可