新旧JIS規格による散乱X線除去用グリッドの物理的特性

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  • Physical Characteristics of Anti-scatter Grids According to Old and New JIS Standards

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被検者の体内で発生する散乱X線がX線受像面に入射する量を減少させることによって,X線像のコントラストを改善する散乱X線除去用グリッド(以下,グリッド)の日本工業規格(以下,JIS規格),JIS Z 4910:2000が平成12年に改正された.対応国際規格であるIEC 60627/Ed2: 1998 Diagnostic imaging equipment-Characteristics of general purpose and mammographicanti-scatter gridsの改正に伴い,可能な限り整合が図られた.主な改正点は,一般撮影用と乳房撮影用が規定され,測定面の面積や製造許容差が変わったことである.従来撮影の際,参考例等のグリッドの物理的特性値より使用するグリッドを選択していた.しかし,これらの値は2ピーク形X線高電圧装置で測定した値であり,インバータ式X線高電圧装置が7割以上普及している現在,実状と異なっていると思われる.そこでインバータ式X線高電圧装置による一般撮影用グリッドの物理的特性(選択度,コントラスト改善度,露出倍数)の測定を改正JIS Z 4910:2000(以下,現行JIS)と旧JIS Z 4910:1983(以下,旧JIS)を参考に試みたのでその結果を報告する.また,JIS規格の測定の方法と配置が,グリッドの受入検査や日常の性能評価に適しているかの考察も加えた.

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