XPSの定量性

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タイトル別名
  • Quantitative X-ray Photoelectron Spectroscopy

説明

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is one of the effective tools for surface analysis. It has been said that basic principle of XPS is not so complicated, so the quantitativity is better than other methods like AES (Auger electron spectroscopy) or SIMS (secondary ion mass spectrometry). <BR>In this report the quantification by XPS and the limitations are briefly described.

収録刊行物

  • 表面科学

    表面科学 7 (3), 231-236, 1986

    公益社団法人 日本表面科学会

被引用文献 (2)*注記

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