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- Tsunoda Yoshihiro
- The Electrical Communication Laboratory
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- Araki Hidemaro
- The Electrical Communication Laboratory
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- Seki Hisashi
- The Electrical Communication Laboratory
Bibliographic Information
- Other Title
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- シリコンエピタキシャル成長層内の積層欠陥の観察
- シリコンエピタキシャル セイチョウソウ ナイ ノ セキソウ ケッカン ノ カンサツ
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Journal
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- Journal of the Japan Institute of Metals and Materials
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Journal of the Japan Institute of Metals and Materials 28 (7), 431-432, 1964
The Japan Institute of Metals and Materials
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206482293376
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- NII Article ID
- 40018258390
- 130007333999
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- NII Book ID
- AN00187860
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- ISSN
- 18806880
- 24337501
- 00214876
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- NDL BIB ID
- 9153830
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
