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- 菅原 透
- 東京工業大学理工学研究科地球惑星科学専攻 現在: 学習院大学理学部化学科
書誌事項
- タイトル別名
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- Effect of secondary fluorescence on electron microprobe analysis of Fe in plagioclase.
- EPMA ニ ヨル シャ チョウセキ チュウ ノ Fe ブンセキ デ ショウズル 2ジ ケイコウ コウカ ニ ツイテ
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抄録
In EPMA analysis of plagioclase in common igneous rocks, measured Fe content can be over-estimated by 15-50 % due to the effect of secondary fluorescence in Fe-bearing adjoining phase such as tholeiitic glass and fayalite, when distance between the analyzed point in plagioclase and adjoining phase is less than 40 μm. The present study reports empirical correction equation for measurements of Fe content in the plagioclase based on new experimental data. The magnitude of the over-estimation of Fe in plagioclase is larger than that of Ca in olivine. It is necessary to analyze carefully with respect to the chemical composition of adjoining phases and distance from the interface for quantitative measurements of Fe in plagioclase and Ca in olivine.
収録刊行物
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- 岩石鉱物科学
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岩石鉱物科学 30 (4), 159-163, 2001
一般社団法人 日本鉱物科学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206525835776
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- NII論文ID
- 10006410005
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- NII書誌ID
- AA1146088X
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD3MXmvFSnsro%3D
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- ISSN
- 13497979
- 1345630X
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- NDL書誌ID
- 5874595
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可