書誌事項
- タイトル別名
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- Application of Direct Electron Detector for TEM
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説明
<p>CMOSイメージセンサーを用いた電子直接検出カメラ（Direct electron detector: DED）が開発され，次世代の透過電子顕微鏡用撮像媒体として注目されている．DEDはその構造原理からCCDに比べて高い解像度と感度を持つことから，クライオ電子顕微鏡などの低照射観察への応用が期待される．また連続高速撮影が可能なため，試料経時観察やドリフト補正などにも利用される．本稿ではそのDEDの仕組みと性能，そしてこれを利用した最近の応用研究を紹介する．</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 48 (1), 57-60, 2013-04-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001277348022272
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- NII論文ID
- 10031176532
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
