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- 高橋 浩之
- 東京大学 大学院工学系研究科 原子力国際専攻
書誌事項
- タイトル別名
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- Radiation imaging with semiconductor technologies
- ハンドウタイ ギジュツ ガ ササエル ホウシャセン イメージング
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説明
<p>放射線イメージングは物質透過能の高い放射線を活用して,測定対象の内部情報を得る手段として,広く用いられている.近年の半導体技術の進展に伴い,高精細なイメージングが可能となり,光子計数型の検出器の発展が目覚ましい.本稿では,放射線イメージングの特徴・原理から始め,現在,本分野において用いられている半導体技術について概観し,それらの発展による放射線イメージングの将来展望を行う.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 83 (4), 284-287, 2014-04-10
公益社団法人 応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001277359050368
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- NII論文ID
- 130007718502
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 025453665
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可