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- 青柳 里果
- 成蹊大学理工学部
書誌事項
- タイトル別名
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- Biomaterial Surface and Interface Analysis by Means of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
- TOF-SIMS ニ ヨル バイオ ヒョウメン ・ カイメン ブンセキ ノ サイキン ノ セイカ
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説明
<p>Thanks to the development of gas cluster ion beam (GCIB) such as an Ar cluster ion beam, the application of TOF-SIMS has been growing, especially in biological fields. GCIB enables sputtering of soft materials including biological cells and tissues to provide 3D images. The features of the latest TOF-SIMS related techniques and applications of TOF-SIMS into biological samples, such as hair, skin, cells, and tissues, and bio-model samples for biomolecule investigation are briefly introduced in this article.</p>
収録刊行物
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- 表面と真空
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表面と真空 62 (4), 211-216, 2019-04-10
公益社団法人 日本表面真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001288130801920
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- NII論文ID
- 130007630441
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- NII書誌ID
- AA12808657
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- ISSN
- 24335843
- 24335835
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- NDL書誌ID
- 029674673
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可