環状明視野（ABF）STEM法の理論と応用

DOI Web Site 被引用文献2件 参考文献22件
  • 柴田 直哉
    東京大学大学院工学系研究科総合研究機構 科学技術振興機構　さきがけ研究員
  • フィンドレイ スコット
    東京大学大学院工学系研究科総合研究機構
  • 幾原 雄一
    東京大学大学院工学系研究科総合研究機構 ファインセラミックスセンター　ナノ構造研究所

書誌事項

タイトル別名
  • Theory and Application of Atomic-Resolution Annular Bright-Field (ABF) STEM
  • カンジョウメイシヤ ABF STEMホウ ノ リロン ト オウヨウ

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抄録

<p>収差補正STEM法は，原子レベルの材料解析において極めて有力な手法である．STEM法では主に高角度散乱された電子を選択的に検出するHAADF法が用いられてきたが，HAADF法は像コントラストが原子番号に強く依存するため，軽元素と重元素の同時観察には不向きであった．最近，低角度散乱された電子を環状検出器で検出する環状明視野（ABF）法により，結晶中の軽元素を極めて明瞭に観察できることが示され，材料解析への応用が期待されている．本稿では，ABF STEM法の特徴と像形成理論を概説するとともに，最近のアプリケーション例についても紹介する．</p>

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 46 (1), 55-60, 2011-03-30

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

被引用文献 (2)*注記

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参考文献 (22)*注記

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