書誌事項
- タイトル別名
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- Automatic Threshold Estimation from Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) - Automatic Estimation of Analysis Range by Residual Analysis -
- デンシ シュウリョウ ブンコウ(PYS)スペクトル カラ ノ ジドウ イキチ スイテイ : ザンサ ブンセキ ニ ヨル ジドウ ブンセキ ハンイ ノ スイテイ
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説明
光電子収量分光(PYS)スペクトルから求められるイオン化ポテンシャルの導出について,数理的な自動推定アルゴリズムを開発した.このアルゴリズムは,スペクトルデータと解析関数による最小化で得られる残差を,平均絶対誤差及び平均平方根二乗誤差にて計算し,その比から解析関数が適用できる範囲(分析範囲)を推定する.これまで自動解析の検証に利用した87個の検証データを用い,このアルゴリズムによる推定を行った.これまでの回帰(最小二乗法)では50%未満の正答率だったの対し,79%まで正答率が向上した.
収録刊行物
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- Journal of Surface Analysis
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Journal of Surface Analysis 27 (1), 15-21, 2020
一般社団法人 表面分析研究会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390007437192683648
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- NII論文ID
- 130008070315
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- NII書誌ID
- AA11448771
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- ISSN
- 13478400
- 13411756
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- NDL書誌ID
- 030705407
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可